因為陶瓷電容穩定，絕緣性好，耐高壓，且價(jià)格相對地便宜，所以在電子元器件市場(chǎng)中中占不少份額，其外觀(guān)呈藍色居多，隨著(zhù)電子技術(shù)不斷地升級進(jìn)步，瓷片電容在發(fā)展有長(cháng)足的發(fā)展，并可廣泛地應用。

其陶瓷電容環(huán)境條件對測量結果的影響：依照載體區別可分為類(lèi)I瓷介電容和II類(lèi)瓷介電容，一貫NP0,SL0,COG是I類(lèi)瓷介電容，X7R,X5R,Y5U,Y5V是II類(lèi)瓷介電容，在不同的作工溫度情況下,電荷儲藏會(huì )有相對明顯地改變，在差異的工作溫度下，電容標稱(chēng)容量與實(shí)質(zhì)容值界限的不同。比如在50℃時(shí)的測試容量和30℃時(shí)的測試容量有差異。所以我們不難看出，在內外環(huán)境溫度相比高的狀況下,電容的容值測量結果就會(huì )明顯偏低。因此小編提倡放置在25℃的條件下，10-30分鐘時(shí)間,讓原料居于穩固的測試環(huán)境下再來(lái)容值測量。

陶瓷電容材料退化的基本現象：原料退化是指電容器的容值范圍因時(shí)間下降的形勢，這再全部以瓷系材料做絕緣體的材料物品中都有產(chǎn)生，是一種自然但避免不了的形勢。因由是由于內部晶體形態(tài)隨溫度和時(shí)間導致了變化讓其容值降低，歸屬可逆原理。

當對退化的原料提供超出材料居里點(diǎn)期間中，當環(huán)境溫度復原到室溫后,原料的分子組織就折回最初的形態(tài)。材料就會(huì )開(kāi)始老化的不斷循環(huán)，陶瓷電容的容值將回復到正常標準中。